Mikroskop sił atomowych AFM (Agilent 5500)

Pomiary AFM/STM w powietrzu, dowolnej at-mosferze, ze zmienną temperaturą próbki (od –20 do 200°C). Pomiary statyczne i dynamiczne, mapowanie właściwości powierzchni (elektrycznych, mechanicz-nych, magnetycznych), wyznaczenie potencjału po-wierzchniowego. Wielkość obszaru skanowania do 90 mikrometrów, subnanometrowa zdolność rozdzielcza w kierunku osi x, y, z.

MOŻLIWOŚCI BADAWCZE praca w atmosferze powietrza, w cieczy lub w ga-zie ochronnym,komora rękawicowa,tryb mapowania przewodności elektrycznej, na-magnesowania oraz pracy wyjścia,tryb elektrochemiczny.

MATERIAŁY MOŻLIWE DO ZBADANIA ciała stałe w postaci materiałów litych lub cienkich warstw,metale, ceramiki, polimery, układy biologiczne.

ZASTOSOWANIE obrazowanie nanostruktur,określenie średnicy porów na powierzchni materiału, analiza chropowatości powierzchni pomiar wysokości mikro i nanostruktur powierzch-niowych,analiza wielkości wytrąceń na powierzchni mate-riału,badanie wpływu procesów elektrochemicznych na strukturę powierzchni, w tym odporności na korozję.

POTENCJALNI ODBIORCY metalurgia, przemysł ceramiczny i polimerów,przemysł elektrochemiczny,biotechnologia,przemysł elektroniczny