Skip to main content

Aparatura

Skaningowy mikroskop elektronowy ze zogniskowaną wiązką jonów (FEI Helios NanoLab 660)

Subnanometrowa zdolność rozdzielcza (XHR), napięcie przyśpieszające od 500 V do 30 kV, detektory wewnątrzkolumnowe. Szybkie i precyzyjne trawienie oraz osadzanie cząstek o średnicy krytycznej większej niż 50 nm. System dozowania gazu (osadzanie Pt, trawienie węgla, osadzanie izolatora). Analiza EDS.

Więcej informacji na stronie producenta - link

Partnerzy
Uniwersytet Ekonomiczny
Uniwersytet Przyrodniczy
PPNT
UMP
ICHPAN
Instytut Fizyki
IGCZ
IGRPAN
IWNiRZ
PP
UMP
UAM
The website encountered an unexpected error. Please try again later.