Skip to main content

Aparatura

Ocena barwy i atrybutów użytkowych barwy

Ocena barwy i atrybutów użytkowych barwy

Normy

PN-EN ISO 11664, PN-EN ISO 105-J01, PN-EN ISO 105-J03, PN-ISO 7724-2


Przedmiot badania
Wyroby branży spożywczej, papierniczej, budowlanej, tworzyw sztucznych, farmaceutycznej, kosmetycznej, tekstylnej, farbiarskiej i lakierniczej.


Zastosowanie
Ciągła i cykliczna kontrola procesu produkcji - utrzymanie barwy w wymaganej tolerancji względem wzorca. Pomiar barwy podczas testów starzeniowych. Dopasowanie kolorystyczne elementów składowych wyrobu wytwarzanych w różnych technologiach.
Dobór pigmentów.

Opis badania
Porównanie różnicy kolorów między wzorcem a mierzonym obiektem odbywa się poprzez porównanie wartości w trójchromatycznym modelu barw CIE Lab wzorca z wartościami pomiarowymi ΔE, ΔL, Δa i Δb. System barw zalecany przez CIE to system o nazwie CIELab. Składa się on z dwóch osi, a* i b*, które usytuowane są względem siebie pod kątem prostym i definiują tonację barwy. Trzecia oś oznacza jasność L*. W systemie tym można określić każdą barwę poprzez współrzędne koloru L*, a*, b* (jasność, odcień i nasycenie). W przestrzeni L* a *b*, każdy kolor posiada własny zakres tolerancji. Należy unikać określania tolerancji za pomocą jednego ze składników całkowitej różnicy barwy ΔE*. Należy oceniać wszystkie elementy całkowitej różnicy barwy. W przestrzeni L* C* h całkowita różnica barwy ΔE* składa się z różnicy jasności ΔL*, nasycenia ΔC* oraz odcienia ΔH*. Zawiera wyrażenia różnic barwy oszacowanych wizualnie i najczęściej jest wykorzystywana. Próbki do badań musza posiadać równą powierzchnię o jednolitym wybarwieniu.


Wynik badania
Zmiana barwy ΔE oraz zmiana jej składowych względem wzorca.

Aparatura
Kolorymetr EnviSense NR60CP. Geometria pomiaru 8°/d. Apertura pomiarowa: Ø 4 mm i Ø 8 mm.


Opcje

Badania powiązane: pomiar połysku powierzchni, ocena barwy (komora świetlna), komora klimatyczna, komora solna, badanie starzeniowe UV.

Partnerzy
Uniwersytet Ekonomiczny
Uniwersytet Przyrodniczy
PPNT
UMP
ICHPAN
Instytut Fizyki
IGCZ
IGRPAN
IWNiRZ
PP
UMP
UAM
The website encountered an unexpected error. Please try again later.