WCZT

pl | en
Mikroskop sił atomowych AFM

Mikroskop sił atomowych AFM (Agilent 5500)

Pomiary AFM/STM w powietrzu, dowolnej atmosferze, ze zmienną temperaturą próbki (od –20 do 200°C). Pomiary statyczne i dynamiczne, mapowanie właściwości powierzchni (elektrycznych, mechanicznych, magnetycznych), wyznaczenie potencjału powierzchniowego. Wielkość obszaru skanowania do 90 mikrometrów, subnanometrowa zdolność rozdzielcza w kierunku osi x, y, z. 

MOŻLIWOŚCI BADAWCZE

- praca w atmosferze powietrza, w cieczy lub w gazie ochronnym,
- komora rękawicowa,
- tryb mapowania przewodności elektrycznej, namagnesowania oraz pracy wyjścia,
- tryb elektrochemiczny.

MATERIAŁY MOŻLIWE DO ZBADANIA

- ciała stałe w postaci materiałów litych lub cienkich warstw,
- metale, ceramiki, polimery, układy biologiczne.

ZASTOSOWANIE

- obrazowanie nanostruktur,
- określenie średnicy porów na powierzchni materiału,
- analiza chropowatości powierzchni,
- pomiar wysokości mikro i nanostruktur powierzchniowych,
- analiza wielkości wytrąceń na powierzchni materiału,
- badanie wpływu procesów elektrochemicznych na strukturę powierzchni, w tym odporności na korozję.

POTENCJALNI ODBIORCY

- metalurgia, przemysł ceramiczny i polimerów,
- przemysł elektrochemiczny,
- biotechnologia,
- przemysł elektroniczny.

Więcej informacji na stronie producenta - link

Aparatura zlokalizowana jest w budynku C.

artykuły powiązane

I konkurs na wykorzystanie infrastruktury badawczej WCZT

Ogłoszenie I wewnętrznego konkursu na wykorzystanie infrastruktury badawczej WCZT dla pracowników Wydziału Chemii UAM, którzy posiadają przynajmniej stopień doktora. zobacz więcej »

partnerzy

Projekt współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszy Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka 2007-2013.